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國立屏東科技大學研發處貴重儀器中心
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穿透式電子顯微鏡/Transmission Electron Microscope(TEM)
簡介 |

穿透式電子顯微鏡具有極高的穿透能力及高解析度,已成為材料科學研究上極有效的工具之一。

電子顯微鏡的構造與光學顯微鏡的構造其原理是相似的,只是電子顯微鏡除了本體外還有真空排氣裝置以及電氣系統。電子顯微鏡本體有一電子束源,就如光學顯微鏡有一光源,光的聚焦靠透鏡,而電子束的聚焦則靠磁場線圈(maganetic coil)。磁場線圈依功能分成三組,第一組是集結線圈(condenser coil):將電子束聚焦在標本上,第二組是物鏡線圈(objective coil):形成標本的初級影像,第三組是投射線圈(projector coil):將初級影像再放大,然後再成像在螢光板上。

當電子照射在標本上時,如果標本夠薄,電子可能直接穿過標本而未碰到任何障礙,即所謂穿透電子,利用這種穿透的電子成像的電子顯微鏡稱作穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)。

TEM在材料科學研究領域中,已經被廣泛而充分地發揮其多功能特性,舉凡生物材料、金屬材料、陶瓷材料、電磁材料、複合材料及高溫超導材料等,皆有利用的實例

功能說明 |

穿透式電子顯微鏡(TEM)可進行高倍率顯微影像觀察

服務對象 |

生技產業、食品研發類、農林漁牧業等相關廠商、校內師生

服務項目 |

高倍率顯微影像觀察

聯絡人 |

貴重儀器中心 莊淑瑛 小姐
suin@mail.npust.edu.tw; (08)7703202 ext 5430

儀器廠牌/型號 | 日本HITACHI 7500
數量 | 1
收費標準 |

400元/小時

 

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