掃描式電子顯微鏡 / Scanning Electron Microscope (SEM)

簡介

電子顯微鏡是一種觀察表面微觀世界的全能分析顯微鏡,隨著科學技術的進步,其類型和用途也不斷更新與發展。本儀器利用加負壓於金屬尖端上,以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束,在極高的真空中操作可得到高品質分辨率的影像,普遍的使用在非導電性樣品的觀察上,如生物 (種子、花粉、細菌)、食品(澱粉、微生物)、醫學 (血球、病毒)、動物 (內臟、絨毛、細胞、纖維)、材料 (陶磁、高分子、粉末、環氧樹脂)、化學、物理、地質、冶金 、礦物、機械、電機及導電性樣品如半導體 (IC、線寬量測、斷面、結構觀察)、電子材料等。並配置能量分散式光譜儀(Energy Dispersive Spectrometer 簡稱 EDS)可做各種化學元素微量分析之定性及半定量,並提供了真空鍍膜(鍍金及鍍碳)設備服務。

功能說明

掃描式電子顯微鏡(SEM)可進行高倍率顯微影像觀察,並藉由能量元素分析儀(EDS)分析未知樣品上所含有的成分,可得知各個元素所含有的重量百分比以及原子量百分比,進而可以分析各個元素的分布情況。

服務對象

生技產業、食品研發類、農林漁牧業、化學工業、環保科技業、金屬工業、半導體公司等相關廠商、校內師生

服務項目
  1. 二次電子影像觀察(SE)。
  2. 背向電子影像觀察(BSE)。
  3. 元素半定量分析(EDS) 。
  4. 樣品臨界點乾燥。
  5. 樣品鍍金處理。
聯絡人

貴重儀器中心 莊淑瑛 小姐 suin@mail.npust.edu.tw; (08)7703202 ext 5430

儀器廠牌/型號

掃描式電子顯微鏡(SEM):日本HITACHI S3000N

能量分散式X -ray元素分析儀 (EDS):HORIBA EMAX-ENERGY

儀器規格

二次電子影像解析:3.0nm(高真空模式,加速電壓25KV)
背向散射電子影像解析度:4.0nm(可變壓力下,加速電壓25KV)
倍率範圍:X25~X20,000(153段)
加速電壓:0.3~30KV

數量

1

收費標準

服務項目

金額(校內)

金額(校外)

備註

SEM上機觀察

400元/小時

500元/小時

含EDS元素分析

離子覆膜(鍍金)

500元/次

600元/次

 

臨界點乾燥

500元/次

600元/次

 

SEM樣品組織塊製作

1,200/件

1,500/件

含固定、脫水(10個樣品)

 

注意事項
  1. 樣品厚度在 3mm 以下者,樣品面積以 7×7mm 見方為限,試片裁取自行處理,並請保持試片乾淨。
  2. 本中心提供之標本處理為臨界點乾燥與金屬離子鍍膜,其餘標本之固定,脫水及其它特殊處理等,請申請者自理。
  3. 樣品含量高量油脂、蠟質、在電子束照射下會分解及釋出大量氣體之樣品、及自行乾燥處理但含水量仍高之樣品,恕不受理。
  4. 使用前須先與管理人員洽談樣品內容、處理方式後再決定是否進行試驗。
  5. 本儀器拒絕受理(1)含有毒性、腐蝕性、揮發性及低熔點等之試樣;(2)具磁性試樣。