穿透式電子顯微鏡/Transmission Electron Microscope(TEM)

穿透式電子顯微鏡具有極高的穿透能力及高解析度，已成為材料科學研究上極有效的工具之一。

電子顯微鏡的構造與光學顯微鏡的構造其原理是相似的，只是電子顯微鏡除了本體外還有真空排氣裝置以及電氣系統。電子顯微鏡本體有一電子束源，就如光學顯微鏡有一光源，光的聚焦靠透鏡，而電子束的聚焦則靠磁場線圈（maganetic coil）。磁場線圈依功能分成三組，第一組是集結線圈（condenser coil）：將電子束聚焦在標本上，第二組是物鏡線圈（objective coil）：形成標本的初級影像，第三組是投射線圈（projector coil）：將初級影像再放大，然後再成像在螢光板上。

當電子照射在標本上時，如果標本夠薄，電子可能直接穿過標本而未碰到任何障礙，即所謂穿透電子，利用這種穿透的電子成像的電子顯微鏡稱作穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)。

TEM在材料科學研究領域中，已經被廣泛而充分地發揮其多功能特性，舉凡生物材料、金屬材料、陶瓷材料、電磁材料、複合材料及高溫超導材料等，皆有利用的實例